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  • HIOKI日置IM3570阻抗分析仪

    HIOKI日置IM3570阻抗分析仪

    HIOKI日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量,1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查,IM3570分析仪在LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量,主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

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  • HIOKI日置IM3590化学阻抗分析仪

    HIOKI日置IM3590化学阻抗分析仪

    HIOKI日置IM3590化学阻抗分析仪用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容),IM3590化学阻抗分析仪适用于离子运动和溶液电阻测量,1mHz~200kHz的宽范围信号源,适用于Cole-Cole图、等效电路分析等电器化学零件和材料的电阻(LCR)测量,最快2ms的高速测量,实现扫描测量的高速化

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  • HIOKI日置阻抗分析仪IM7580A

    HIOKI日置阻抗分析仪IM7580A

    HIOKI日置阻抗分析仪IM7580A测试速度最快0.5ms,高速、高稳定测量,节省空间的半个机架大小,测量频率1MHz~300MHz,基本精度±0.72%rdg.使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量,主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。

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  • HIOKI日置IM7581阻抗分析仪

    HIOKI日置IM7581阻抗分析仪

    HIOKI日置IM7581阻抗分析仪主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。最快测试速度0.5ms,测量范围覆盖100kHz~300MHz的低频,紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小,IM7581阻抗分析仪使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  • HIOKI日置阻抗分析仪IM7583

    HIOKI日置阻抗分析仪IM7583

    HIOKI日置阻抗分析仪IM7583具有丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定),IM7583阻抗分析仪能高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:最快0.5ms,测量频率:1MHz~600MHz,主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。

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  • IM7585HIOKI日置阻抗分析仪IM7585

    IM7585HIOKI日置阻抗分析仪IM7585

    HIOKI日置阻抗分析仪IM7585测量频率:1MHz~1.3GHz可以高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:最快0.5ms,测量值偏差0.07%,紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小,使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量,主机不带测试治具。需要选配使用阻抗分析仪专用的测试治具。

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